檳城電子│智能手持式POS機的EOS防護

        EOS（Electrical Over Stress）電氣過應力，是元器件常見的損壞原因，其表現方式是過壓或者過流產生大量的熱能，使元器件內部溫度過高從而損壞元器件（大家常說的燒壞），是由電氣系統中的脈沖導致的一種常見的損害電子器件的方式。

        由于USB接口的廣泛應用，充電協議的擴展，USB接口的優勢得到了新的發展空間。在現階段，USB接口在手持式電子產品得到了廣泛應用。

問題描述:

        某客戶的智能手持式POS機，使用的是USB口作為整機的電源輸入口，在使用過程中，經過數次帶電拔插，設備就不能開機了，電源輸入異常。拆機，測量USB電源兩端為短路，查出為OVP芯片短路所致。由于去除了OVP器件，客戶擔心實際使用過程中會存在應用風險。故，提出EOS滿足200V的測試要求。

原因分析:

        產品電路圖如下（原電路圖），該USB接口輸入端有三級防護，初級是一個ESD類的防護器件，后級還有一個OVP防護器件，兩級之間沒有做退耦器件。查相關規格書，OVP的通流較小，為5A。前級ESD通流相對較大點，為100W，折算成8/20μs的電流，約為13A左右。

▲原電路圖

        為了摸清實際各個器件的通流能力，我們做了一組原方案的摸底測試：

        拆機，去除前級的TVS后，通電后2#設備正常運行。

處理措施:

        由以上測試結果，產品基本問題摸清楚了，OVP的抗過電流能力不足，熱拔插會導致短路失效，在EOS測試時，前級防護TVS只能滿足70V的浪涌測試，不能滿足客戶提出的200V的EOS測試需求，為此，我司建議客戶使用BV-FA05ZA，該器件單體可以滿足EOS 280V@140A的測試要求，另一個特點是該器件的殘壓非常小，在IPP=100A時，其VC是小于10V的，封裝體積也非常小，封裝為DFN1006封裝，那么，該器件在板子上實測效果又如何呢：

        通過以上的測試數據，在增加了BV-FE05ZA后，客戶產品能滿足EOS200V 的測試要求。

思考與啟示:

        通過以上的測試、整改，我們可以了解到：

        ■ OVP芯片確實是有過電壓防護功能，但選型不正確、安裝位置不對會造成器件損壞，影響系統工作。該產品在設計時，存在設計的缺陷，將OVP芯片與TVS直接并聯，中間沒有退耦器件，屬于安裝位置不正確的表現。當有過電流時，沒有前級的退耦器件，OVP的相對脆弱，導致損壞。

        ■ 在USB標準協議的擴展，供電電流的不斷加大，由原來的500mA、800mA、1A，發展到至今24V，2A了，由于輸入電流增大，熱拔插產生的干擾能量也越大，對USB端口的抗干擾能力要求也就越來越高，普通的ESD器件已經不能滿足現有的防護要求，所以，在電子產品的設計時，應該將相關的應力等級提高，不能局限于現有的標準中。為應對這些新興的、特殊的應用場合，我司推出的BV-FE05ZA能完美的解決這個問題。